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环扫电镜常见分类和应用领域
环扫电镜是一种扫描电子显微镜，利用聚焦电子束扫描样品的表面来产生样品表面的图像。最常见的扫描电镜模式是检测由电子束激发的原子发射的二次电子。可以检测的二次电子的数量，取决于样品测绘学形貌。环扫电镜常见分类：1.分析扫描电镜:扫描电镜配备X射线能谱仪EDS后发展成分析扫描电镜，不仅比X射线波谱仪WDS分析速度快、灵敏度高、也可进行定性和无标样定量分析。2.场发射枪扫描电镜：场发射扫描电镜得到了很大的发展，不仅提高了常规加速电压时的分辨本领，还显著改善了低压性能。3.低压扫描电镜...
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环境扫描电子显微镜的工作原理和仪器特点
环境扫描电子显微镜工作原理：电子与样品中的原子相互作用，产生包含关于样品的表面测绘学形貌和组成的信息的各种信号。电子束通常以光栅扫描图案扫描，并且光束的位置与检测到的信号组合以产生图像。扫描电子显微镜由电子枪发射出电子束，在加速电压的作用下经过磁透镜系统汇聚，形成电子束，聚焦在样品表面上，在第二聚光镜和物镜之间偏转线圈的作用下，电子束在样品上做光栅状扫描，电子和样品相互作用产生信号电子。这些信号电子经探测器收集并转换为光子，再经过电信号放大器加以放大处理，成像在显示系统上。环...
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透射扫描电子显微镜的核心优势介绍，请收好！
透射扫描电子显微镜既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜，可以将样品冷却到液氮温度，特别适用于观测蛋白、生物切片等对温度敏感的样品。通过对样品的冷冻，可以降低电子束对样品的损伤，减小样品的形变，从而得到更加真实的样品形貌。透射扫描电子显微镜成像是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下，场发射电子源发射出电子，通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后，通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时，样品下面的探测...
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场发射电镜真的那么好用吗？
场发射电镜是电子显微镜的一种，是以场发射电子发射体发射电子，并以电子束为光源，在真空状态下通过电磁透镜控制电子束汇集成很小的束斑照射并透过样品。由于电子的德布罗意波长非常短，可以获得样品原子级微观形貌。其原理是利用二次电子或背散射电子成像，对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察，同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。具有电子束斑小、高分辨率、稳定性好等特点。场发射电镜有以下几种用途：1.纳米材料基本特性分析：对有机、无机、纳米材料进行微观形态研究...
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FIB双束扫描电镜是什么？他又有那些用途？
随着半导体电子器件及集成电路技术的飞速发展，器件及电路结构越来越复杂，这对微电子芯片工艺诊断、失效分析、微纳加工的要求也越来越高。FIB双束扫描电镜所具备的强大的精细加工和微观分析功能，使其广泛应用于微电子设计和制造领域。FIB双束扫描电镜是指同时具有聚焦离子束(FocusedIonBeam，FIB)和扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope，SEM)功能的仪器。它可以实现SEM实时观测FIB微加工过程的功能，把电子束高空间分辨率和离子束精细加工的...
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聚焦离子束显微镜原来可以用于这些地方！
聚焦离子束显微镜的利用镓(Ga)金属作为离子源，再加上负电场(Extractor)牵引端细小的镓原子，而导出镓离子束再以电透镜聚焦，经过一连串可变孔径光阑，决定离子束的大小，再经过二次聚焦以很小的束斑轰击样品表面，利用物理碰撞来进行特定图案的加工，一般单粒子束的显微镜，可以提供材料切割、沉积金属、蚀刻金属和选择性蚀刻氧化层等功能。聚焦离子束显微镜主要应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析、TEM制样等。1.精细切割及材料蒸镀：利用显微镜可以在素玻璃上分别进行镓离子精细切割及...
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FIB双束电镜是什么？有哪些功能？
随着半导体电子器件及集成电路技术的飞速发展，器件及电路结构越来越复杂，这对微电子芯片工艺诊断、失效分析、微纳加工的要求也越来越高。FIB双束电镜所具备的强大的精细加工和微观分析功能，使其广泛应用于微电子设计和制造领域。FIB双束电镜系统是指同时具有聚焦离子束和扫描电子显微镜功能的系统，可以实现SEM实时观测FIB微加工过程的功能，把电子束高空间分辨率和离子束精细加工的优势集于一身。其中，FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过加速，再聚焦于样品表面产生二次电子信号形成电子像，...
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FIB显微镜的原理和作用，快来了解一下吧！
随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的核心部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束(FIB)技术利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合FIB显微镜等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。FIB显微镜的工作原理：聚焦离子束(FIB)轰击样品表面，激发二次电子、中性原子、二次离子和光子等，收集这些信号，经处理显示样品的表面形貌。聚焦离子束的...
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TEM扫描电镜能通过哪些信号得到被检测样品信息？
TEM扫描电镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子等多种的信号，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如：形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。TEM扫描电镜正是根据上述不同信息产生的机理，...
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你知道透射电镜是由哪几个部分组成的吗？
透射电镜结构主要分为电子光学、真空系统和供电控制系统三个部分。一、透射电镜电子光学部分：整个电子光学部分*置于镜筒之内，自上而下顺序排列着电子枪、聚光镜、样品室、物镜、中间镜、投影镜、观察室、荧光屏、照相机构等装置。根据这些装置的功能不同又可将电子光学部分分为照明系统、样品室、成像系统及图像观察和记录系统。1.照明系统：照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中及倾斜调节装置组成。它的作用是为成像系统提供一束亮度高、相干性好的照明光源。电子枪由阴极、栅极和阳极构成。在真空中通电...
