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可以实时检测形貌与元素信息的“钨灯丝扫描电镜”

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  钨灯丝扫描电镜成像平台即时可用。彩色图像让成分分布更直观,实时定量能谱分析让科研更高效,低电压及电子束减速模式配合经典的CBS探头(同轴环状背散射探头)使不导电样品也可以在不镀金条件下呈现*的成像性能。低真空则可以在不镀膜的情况下对不导电样品进行更真实的能谱元素分析。专为快速分析而设计,智能型扫描电镜,让新手用户也可以轻松操纵。
 
  钨灯丝扫描电镜将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上,快速提供所需微观形貌及实时成分信息,帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据,准确执行故障分析和缺陷检测。通用型SEM系统,可涵盖多种类型样品。可分析绝缘材料、处理大而重的样品,同时能够分析常规的小尺寸样品。灵活性SEM系统,支持各类功能附件。使用便捷,不依赖于用户操作水平、能够便捷提供元素或化学信息。高度自动化,自动对中技术确保系统始终处于最佳工作状态,用户指南及撤销功能帮助用户更轻松操作系统。处理效率高,实时定量成分分析成像,更快获得定量分析数据。
 
  钨灯丝扫描电镜可以完成实时成分信息,同步扫描获取多种信号时执行能谱分析,实时检测形貌与元素信息;成像平台即时可用,只需关注数据采集,不必忧虑电镜条件设置;更快获得数据,多种成像和扫描策略,优化图像采集效果并提升系统处理能力;灵活的样品台设计,全开门式设计,大样品可轻松加载到样品仓内,*的成像性能,提供低真空模式和电子束减速模式用于消除荷电效应。

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